专利名称：用于单光子发射断层扫描系统的性能检测的双线源
模
专利类型：实用新型专利发明人：杜国生
申请号：CN201220237607.8申请日：20120525公开号：CN202589547U公开日：20121212
摘要：本实用新型公开了一种用于单光子发射断层扫描系统的性能检测的双线源模(10)，其特征在于包括：第一夹板(11)；第二夹板(12)，与所述第一夹板(11)具有对称的结构并与其相对设置；和双线源(13)，设置在所述第一夹板(11)和所述第二夹板(12)之间，其中在所述第一夹板(11)和所述第二夹板(12)的相对表面上的相应位置处分别设置有形状相同的细长凹槽(14)，所述双线源(13)设置在所述细长凹槽(14)中。
申请人：卡迪诺科技(北京)有限公司
地址：101500 北京市密云县经济开发区科技路乙12号
国籍：CN
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