专利名称：一种深度测量装置及测量方法专利类型：发明专利发明人：王兆民
申请号：CN201911385285.4申请日：20191228公开号：CN111025319A公开日：20200417
摘要：本发明公开了一种深度测量装置，包括发射单元、接收单元、以及控制与处理电路；其中，发射单元包括光源和光学元件，光源发射时序上振幅被调制的光束，光束经过光学元件后投射到目标区域；接收单元包括有TOF图像传感器和变焦透镜，TOF图像传感器采集目标区域反射回的光束并形成电信号，变焦透镜将反射光束投射到TOF图像传感器中；控制与处理电路接收电信号并计算出反射光束的强度信息，根据强度信息及预定义的阈值范围调整变焦透镜的焦距，进而调整TOF图像传感器采集反射光束的视场角。通过调整变焦透镜的焦距进而调整传感器接收反射光束的光强度，保证传感器在不同情况均可接收到有效的响应信号，提高了装置的测量精度。
申请人：深圳奥比中光科技有限公司
地址：518000 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
国籍：CN
代理机构：深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：田志立
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