张凌等：固体材料折射率测试方法概述 固体材料折射率测试方法概述 张 凌 高 孔 何群秋 杨诗雅 （华南理工大学广州学院珠宝学院，广东广州５１０８００） 摘要：折射率被广泛应用于各行业，测试折射率的方法多达数十种，本文综述了材料学、矿物学、宝石学中固体材料折射率测试方法的原理、优缺点等。 精密测角仪法原理简单、测试精度高，但需要将测试样品制成特定形状；显微镜用于折射率测试精度低，但适合矿物样品块体小、相互结合的特征；阿贝折 射仪测试精度较高、对有抛光平面的样品无需其他制样，但其测试范围有限，一般在小于１．８。随着技术进步，迈克尔逊干涉法、光电调制法、光谱测试法等 逐渐应用到折射率测试领域，为提高材料折射率测试精度、速度创造了条件。 关键词：折射率测试，精密测角仪法，阿贝折射仪 中图分类号：Ｐ７３３．２１＋４ 文献标识码：Ａ 国家标准学科分类代码：４１０．５５ ＤＯＩ：１０．１５９８８／ｊ．ｅｎｋｉ．１００４—６９４１．２０１５．１０．００１ Ｓｕｍｍａｒｙ ｏｆ ｔｈｅ Ｍｅｔｈｏｄｓ ｆｏｒ Ｔｅｓｔｉｎｇ Ｓｏｌｉｄ Ｍａｔｅｒｉａｌｓ Ｒｅｆｒａｃｔｉｖｅ Ｉｎｄｅｘ Ｚｈａｎｇ Ｌｉｎｇ Ｇａｏ Ｋｏｎｇ Ｈｅ Ｑｕｎｑｉｕ Ｙａｎｇ Ｓｈｉｙａ １利用界面特征测试 的应用受到限制。利用熔体代替浸液，可测试１．９～２．５ 光线穿过两种物质界面，受光线反射、折射等影响， 使得可以观察到物质界面，界面的清晰程度与相邻物质 折射率差值大小直接相关。 １．１显微镜观察 范围的折射率，但熔体配置相对困难，测试精度随着熔体 折射率增高、透明度降低、色散增大等降。熔体冷却后， 通过观察待测样品与熔体形成的贝克线、边缘等求待测 样品折射率，精度可达到ｌ０～。 ２依据折射定律测试折射率 矿物学中，利用偏光显微镜观察薄片中矿物颗粒的 边缘、糙面、突起、贝克线等现象，半定量的判断矿物颗粒 ２．１精密测角仪法 光线穿过三棱镜，出射方向决定于入射方向、棱镜顶 角、材料折射率等，故测得出射角（与出射方向相关）及 折射率值大小。矿物颗粒与制作薄片的树胶折射率值 （一般１．５３）差异越大，光线在二者界面上折射现象越显 著，矿物颗粒的边缘越粗越黑、糙面越明显、突起越显著、 贝克线越粗越亮移动距离也越大。利用宝石显微镜观察 其他相关夹角，即可求得折射率值。一般用分光计测试 角度大小。根据此原理设计的方法主要包括最小偏向角 宝石内部包体贝克线移动方向，可判断包裹体与宝石主 体间折射率相对大小，为宝石鉴定提供更多信息。这种 方法无法准确测量折射率大小，但对于待测矿物颗粒大 法、直角照准法、垂直入射法、自准直法等、Ｖ棱镜法等， 是传统的、应用广泛的高精度折射率测试方法。 ２．１．１最小偏向角法 小要求低，小于１ ｍｍ的矿物颗粒都能容易判定其折射率 相对大小；另外，利用锥偏光显微镜可以较准确测定矿物 双折射率大小。 由于光线折射，单色平行光穿过三棱镜（如图１）后 的折射方向③和入射方向①之间存在一定的夹角６，此 角被称为偏向角。当入射角等于出射角时，偏向角具有 最小值６ 。由折射率定理和几何关系有： １ 二 １．２浸液法（油浸法）、熔体法 固体浸于与其折射率值相近或相同的液体中时，其 边界变得模糊乃至消失。通过改变浸液成分或改变波长 口 厶 ｎ＝ｓｉｎａ／ｓｉｎｌ＝ｓｆｉｎ［÷（６ ｉ ＋０）］／ｓｉｎ詈 （１） 等方法调节浸液折射率值，求得此值即可获得相应固体 折射率值。此法对固体样品形状、尺寸几乎无要求，测量 精度可达到ｌ０Ｉ４量级，但测试范围受浸液折射率值限 其中，ｎ、 、 、６ ０分别表示棱镜折射率、入射角、 折射角、最小偏向角、棱镜顶角。在测角仪上，测量棱镜 顶角 （主要有自准直法、反射法）和最小偏向角６ （主 制，一般１．３～１．９，对温度变化要求较严格，需要一套标 准块，所使用的高折射率值液体往往有毒，使得这种方法 基金项目：本文受国家大学生创新创业项目（２０１４１２６１７０３４）资助。 收稿日期：２０１５—０６—０２ 要有单值法、两倍角法、互补法和三像法）即可计算出其 折射率ｎ。此法适用于加工精细的大尺寸样品，测试范 围不受限制，测试精度为１０～～ｌ０～，在对温度和压力 校正的基础上采用精密测角仪或采用ＣＣＤ成像和细分 技术，折射率精度可达到１０～，国内外使用这种方法测 试大多数玻璃折射率。也可以测试棱镜三个顶角对应的 三个最小偏向角进而计算折射率，测量精度随着折射率 增大而提高，比传统最小偏向角法高２倍；可用于紫外 光、可见光、红外光范围折射率测试。不足之处，除了需 要大块材料并加工成棱镜形式外，此方法对各向异性晶 体材料的非常光主折射率测量存在一定的困难，无法直 接得到双折射率值。有研究者提出非最小偏向角法测量 折射率，经分析认为其测量精度高、降低了寻找最小偏向 角的难度且减少了相应的附加误差。 Ｂ Ｃ 图１棱镜折射翠测量 ２．１．２掠入射法（折射极限法） 在图１中，以 表示入射角等于９０。时光线③的极 限出射角，则由全反射及折射定律可知Ｏ／＜９０。，则出射 角 ＞ ；Ｏｒ＞９０。，光线不能进入棱镜。使用穿过毛玻璃 的散射光入射棱镜，将形成 ＜ 的暗场和 ＞ 的亮 场，易测得 大小。由几何关系、折射定律知１３／＝９０。时， 棱镜的折射率 ｎ＝（１＋（ｃｏｓ０＋ｓｉｎｑ￣ ） ／ｓｉｎ ０） （２） 式中：凡一棱镜折射率， 一棱镜顶角大小， 一极限出 射角。此方法虽然测试精确度低，但操作简便迅速，制样要 求低，经稍加处理也可用于测试液体折射率值。 ２．１．３特殊角入射或折射 图１中，①若 ＝ ，称为等顶角入射法，样品折射率 ｎ＝ｆ ｓｉｎＯ＋（ｃｏｓ０＋ｓｉｎｑＪｓｉｎＯ） ］ （３） ②若 ＝０，称为等顶角折射法，折射率 １ ｎ＝ｆ ｓｉｎ ｉ＋（１＋ｓｉｎｃｏｔＯ） ］丁 （４） ③若 ：０，称为垂直入射法，折射率 ｎ＝ｓｉｎｇｏ／ｓｉｎ０ （５） ④若 ＝０，称为垂直折射法，折射率 ｎ＝ｓｉｎｉ／ｓｉｎＯ （６） 这些以特殊角入射或出射的测试方法，可用于任意 三角形截面的棱镜折射率测试，降低制样难度；可减少利 计量与测试技术 Ｄ１５丰第４２卷第１０期 用分光计测试参数的次数，简化测试步骤，提高测试精 度；只是棱镜顶角太大时，在垂直入射法、垂直折射法中 折射光将在棱镜内全反射或不能与折射面垂直，无法测 得折射率。 ⑤图１中，光线经ＡＢ面且垂直ＡＣ入射时，称为垂 直底边入射法。此时样品的折射率 ｎ：［ｓｉｎ６＋（１＋ｓｉｎ６ｃ。ｔｏ） ］士 （７） 用此方法测试折射率值，操作简单，结果不确定度 小，但当被测晶体的折射率较大时，光线在ＡＣ面发生全 反射，无法观测到折射现象。 ⑥图１中，若棱镜截面为等边三角形，光线在ＡＣ面 上刚好发生全反射时的入射角 为最大全反射人射角 …，此时折射率 ｎ＝｛［（ｓｉｎａ ＋ｃｏｓ０）／ｓｉｎ０］ ＋ｌ｝ （８） ２．１．４垂直照射封闭测量法 图２为垂直照射封闭测量法原理图，平行光垂直等 边棱镜底边入射并经该面出射，折射角为 ，类似可以 测得 、 。，材料的的折射率 ｎ＝｛÷ｓ１’ｎ ［（ ＋ 口＋ ｃ）／６］＋ ｓｉｎ［（ ｄ＋ Ｂ＋ ｃ）／６＋１］｝丁 （９） 利用此原理设计的自动折射仪测试精度可达到 １０～～１Ｏ一，测试折射率值范围广，可用于较宽波长光谱 折射率测量，但样品需加工成精准的等边三角形棱镜。 Ｂ Ｃ 图２ 垂直照射封闭测量法原理图 ２．１．５ ４５。棱镜法 如图３，光线垂直ＢＤ面穿过待测样品，并以４５。入 射角进入标准样品，由折射定律可知： ． １ ｎ＝（ｎ —ｓｉｎ ） ±ｓｉｎｑ￣ （１０） 其中，凡为待测样品折射率， 为已知的标准样品折 射率， 为出射角。ｎ＞ ，公式中取正号，反之取负号。 这种方法测量精度较高（＜４×１０ ），测试范围可达到 ２．３左右，所需待测样品尺寸小；测试精度受样品加工角 度精度影响，可用于测试双折射率值，但样品制作工艺和 测试技术要求很高。 张凌等 固体材料折射率测试方法概述 ＼ ５。 Ｌ ＼ 待测样品ｎ ＼ ＼＼ 标准样品 Ｄ Ｃ 图３ ４５。棱镜法示意图 ２．１．６ Ｖ棱镜法 ｎ ， —＿＿＿＿ 一一～ 、／ ／ ＼ ｎ０＼＼４５。 ４５。 图４ Ｖ棱镜法原理示惹图 Ｖ棱镜法测折射率的原理如图４所示，两块相同折 射率棱镜粘接成９０。Ｖ形棱镜，待测样品切割成９Ｏ。置于 Ｖ形棱镜中，在样品与棱镜中添加一些折射率值接近样 品的折射油以形成光学接触，消除样品形状误差影响、避 免全反射现象发生。单色光从棱镜一侧入射，穿过样品 从棱镜另外一侧出射，由折射定律和几何关系有： ． ． 一 １ 凡 ＝ｎ ＋（ｎ 一ｓｉｎ ）Ｔｓｉｎｑ￣ （１１） 式中：ｎ一待测样品折射率， 一棱镜材料折射率， 一 出射角。当ｎ＞ｌｔ＇ｏ时， 为正值；当ｎ＜ 时， 为负值。 Ｖ棱镜法测量固体折射率操作简单，样品加工精度 要求相对较低，精度高达１０～，但测试时样品需要加工 成一定的形状，需要已知Ｖ棱镜、折射油的折射率且二 者与被测样品折射率值相差不大于－ｔ－Ｏ．２，大大限制了此 方法的应用。 ２．４示值误差法 图５示值误差法示意图 如图５，在移测显微镜下，分别穿过待测样品或移除 待测样品时观察某物点０，记录Ｏ清晰时镜筒高度，由几 何关系和折射定律，有 ｒｔ＝ｓｉｎ０／ｓｉｎ｛ａｒｃｔａｎ［ａｓｉｎＯｃｏｓＯ／（ｂ＋ａｃｏｓ ０）］｝（１２） 式中：ｎ一待测样品折射率值， 一棱镜顶角，ａ＝ｌ ｈ 一ｈ ｆ，ｂ＝Ｉ ｈ 一ｈ。ｆ。ｈ ：移除棱镜，物点０在显微镜中 呈像清晰时镜筒高度；ｈ：：棱镜中物点Ｏ的像点Ｏ 清晰 时镜筒高度；ｈ ：像点０ 所对应棱镜表面点０ 清晰时镜 筒高度。 此方法测试精度仅１０～，可用于折射率精度要求不 高的透明样品折射率测量，优点是操作简单，对样品加工 精度要求不高。大部分单晶体宝石被加工成刻面型，可 使用这种方法测量折射率。 ３ 依据全反射定律测试折射率 光从光密介质入射到光疏介质时，折射角等于９ｏ。时的 入射角称为全反射临界角（简称临界角），据折射定律有： Ｎｓｉｎ０＝ｎｓｉｎ９０。＝ｎ （１３） 式中：，ｖ一光密介质折射率值， 一临界角，ｎ一光疏 介质折射率值。若光密介质折射率值Ⅳ已知，测得临界 角值即可得光疏介质折射率值ｎ。 ３．１ 漏光效应鉴别宝石 为了增强宝石亮度，宝石加工时需要选择合适的亭 角使得从宝石冠部入射光线尽可能全部从冠部反射出， 但只有折射率较大的宝石材料才能达到这种要求。因此 对于加工琢型理想的宝石，观察是否有冠部入射光透过 亭部，能够辅助定性判断宝石折射率大小，帮助鉴别宝 石。如加工理想的圆钻型钻石，底部几乎无漏光。 ３．２阿贝折射仪 阿贝折射仪是据全反射定律设计的最具代表性的折 射仪，可用于测试液体或固体折射率值。以宝石鉴定中 使用的阿贝折射仪为例，测试范围一般１．３～１．８，精度 １０～，可测试宝石折射率值、双折射率值、判断宝石光性 及轴性，是宝石常规鉴定中最依赖的仪器之一。测试时 仅需要宝石具有一定大小的抛光平面即可，对宝石形状 无特殊要求；对没有抛光平面的弧面型宝石，利用点测法 测试其折射率值，测试精度达到１０～，满足宝石鉴定需 要，这为常见宝石无损鉴别提供了可能。不足之处是在 测试中需要使用接触液，接触液折射率值大小直接限定 仪器量程；由于测试过程中需要旋转宝石，当宝石较小时 操作相对困难，也可能给测试结果带来较大误差。在其 他行业，已有结构简单轻巧、使用方便、测量快速、性价比 高的自动阿贝折射仪可供使用。 ４利用反射光强度计算折射率 ４．１ 光泽 光泽是材料表面反光能力的体现，其强度与折射率 成正相关性，因此通过观察光泽强弱可粗略判断材料折 射率大小。非抛光表面，如断口的光泽，受结构影响较 大，此方法不一定适用。 ４．２反射率 根据菲涅耳反射定律，光线垂直入射两种介质的光 学界面，若介质不吸收光线能量，则界面反射率为： Ｒ＝ＩＲ／Ｉｏ＝（ｒｔ—ｎｏ） ／（ｎ＋ ０） （１４） 式中：Ｒ一反射率， 一材料反射光强度， 一入射光 强度，凡一待测样品折射率，若在空气中测试样品折射率， 凡。一空气折射率，取近似值１。测量反射率Ｒ，可利用背 面影响系数法和／或背面镀增透膜法减少样品背面反射 影响，由上式求得材料折射率。 测试反射光强度也可以测试非均质体晶体常光和非 常光折射率值。光轴位于入射面内时，自空气中入射的 ｓ偏振光在介质界面上的反射率 Ｒ』＝ｓｉｎ （ｉ—ｒ）／ｓｉｎ （ｉ＋ｒ） （１５） 由折射定律 ｓｉｎ／＝ｎｏ／ｓｉｎｒ （１６） 式中：Ｒ．一ｓ光反射率，ｉ、ｒ一入射角和折射角，ｎ 一 常光折射率。测量尺．、ｉ并拟合二者之间的函数关系， 结合折射定律求得ｎ ； 对于入射的Ｐ偏振光有 Ｒ／／＝ｔａｎ （ｉ—ｒ）／ｔａｎ （ｉ＋ｒ） （１７） ｓｉｎ ｒ／ｓｉｎ ｉ＝ｓｉｎ （ｒ— ）／ ＋ＣＯＳ （ｒ— ）／ｎ （１８） 式中：尺 一Ｐ光反射率，ｎ 一非常光折射率，ｉ、ｒ分别 为人射角和折射角， 一光轴与反射面法线之问的夹角。 测量Ｒ…ｉ、 并进行函数拟合，可求得非常光折射率ｎ 。 这种方法测试时仅需对激光入射点处的样品抛光，不需 要其他加工，但测试精度可达到１０ 。 ５激光照射干涉法 利用激光照射产生干涉现象的来计算光在待测物体 中产生的偏移位置，利用这个原理测量折射率的方法有 迈克尔逊干涉仪测量法、激光照射法、衍射光栅法、光纤 杨氏干涉法、ＣＣＤ测量法、电光调制法等。 利用Ｍｉｃｈｅｌｓｏｎ干涉仪测折射率时，折射率可表示为 ｎ＝ＡＡｋ／（ｚａＬ） （１９） 式中：ｎ一待测材料折射率，Ａ一人射光波长，△ 一干 涉条纹变化数，△三一动镜移动距离。利用Ｍｉｃｈｅｌｓｏｎ干 涉仪设计的装置能够测量均质体、非均质体折射率。原 理类似的还有显微剪像法，只是其利用零级干涉进行计 算玻璃微珠折射率，无需动镜装置，测试精度高，但需要 与样品折射率接近的介质；玻璃微珠的折射率还可以通 过在激光照明下获取二次彩虹条纹图，利用艾里和米氏 理论推导得到。 Ｆ—Ｐ（法布里一珀罗干涉仪）干涉法，测量精度１ ｘ １０ Ｉ¨，干涉仪两个内表面须严格平行且与理想几何平面 偏差在０．０５～０．０１波长。 ６利用光谱测试折射率 计量与测试技术）２ｏ１５丰４２卷第Ｔ０期 光束垂直入射透明平行板状晶体时，其折射率 ｎ＝｛１＋［（１一Ｔ）／（１＋ ）］丁１｝／｛１一［（１一Ｔ）／（１＋ ｌ ）］丁｝ （２０） 若晶体吸收系数较大， ｎ＝｛１＋Ｅ（１一ｅｅｄＴ）丁ｔ］寺｝／｛１一［（１一ｅｅｄＴ） １］寺｝ （２１） 式中：卜样品厚度为ｄ时的透过率，吸收系数Ｏｔ由 １／ ＝ｅ ｔ’ （２２） 求得， 、 分别是样品厚度为ｄ 、ｄ 时透过率。光 谱法测试样品折射率值，精度高，测试范围无限制，可测 得不同波长折射率，操作简单，但需要将样品加工为高精 度的平行板状，样品测试面不得小于光束直径。 ７ 总结 材料学、矿物学、宝石学等专业根据需要选择合适的 固体折射率方法：材料学一般要求折射率测量精度高、测 试范围大、操作简单，可用于测试的样品块体多较大，可 进行破坏性测试，因此往往采用对制样精度要求高的精 密测角仪法测量；矿物学、宝石学测试折射率主要用于矿 物、宝石的鉴别，对折射率测试精度要求相对较低，前者 往往因待测样品受块体大小和矿物问结合关系所限，常 用偏光显微镜对矿物折射率进行级别划分；宝石学测试 折射率要求首先满足非破坏性条件，阿贝折射仪因此成 为首选，阿贝折射仪还能够测试宝石双折射率、光性、光 符等宝石性质。各行业关于折射率测试仪器的研究，主 要集中在提高测试精度、寻找新方法和提高自动化程度 方面，为折射率测试的更高要求提供保障。 参考文献 ［１］徐聪恩．Ｖ棱镜折射仪的智能化研究［Ｄ］．中国计量科学研究院， ２Ｏｌ１． ［２］朱振峰，蒲永平，刘新年．固体介质熔融比较法测玻璃微珠折射率 ［Ｊ］．西北轻工业学院学报，２ＯＯｌ（０３）：２７～３Ｏ． ［３］孟庆华，向阳．高精度测量光学玻璃折射率的新方法［Ｊ］．光学精 密工程，２００８（１１）：２１１４～２１１９． ［４］周文平．晶体材料折射率的测量方法研究［Ｄ］．曲阜师范大学， ２００７． ［５］阎智春，段文琴，王世焯．一种光学玻璃折射率自动测量方法 【ｊ］．光学机械，１９８７（Ｏ６）：３９～４６． ［６］杨小静，常缨，朱鹤年．非最小偏向角测棱镜折射率合成不确定度 的探讨［Ｊ］．物理实验，２０１３（０６）：３３～３４． ［７］刘伟．测透明固体和液体折射率的新方法［Ｊ］．甘肃联合大学学 报（自然科学版），２００８（０５）：５０～５２． ［８］袁剑辉，周烈生，车宇．用分光计测量棱镜折射率的几种方法 ［Ｊ］．中山大学学报论丛，１９９８（ｏ４）：１１３—１１６． ［９］周凯宁，肖宁，陈棋等．３种测量三棱镜折射率方法的对比［Ｊ］．实 验室研究与探索，２Ｏｌ１（０４）：２２～２５． （下转第８页） 计量与测试技术￣２ｏ１５车第４２卷第７０期 于应变计应用时防护不好或应用过程中环境湿度过大造 （２）加压时加压力不均匀，造成应变计敏感栅变形 成，这种漂移与①较为类似，所以在应用过程中，必须要 将环境湿度控制在６０％以内；在应用时必须对应变计进 行防护，避免水汽侵入，影响应变计稳定。 而阻值异常，这一问题主要是加压夹具不规范，使应变计 受力不均匀所致。 （３）工装设计的曲率半径与构件不吻合，造成应变 计变形或鼓包而阻值异常。 （４）使用一段时间后，阻值发生异常。这一问题主 要是应变计内部有气泡或个别虚空或焊接时有不可靠因 ④应变计被刺穿，造成绝缘强度下降。这一问题主 要是在贴片或组桥过程中形成，如有坚硬物体夹持应变 计或构件、弹性体表面毛刺、划痕等刺穿应变计或焊接时 烙铁头过于尖利刺穿应变计等。 （２）贴片缺陷造成的影响 这一问题主要在贴片过程中形成。 素存在等。 ４．３贴片后的表面缺陷 从前述的内容中可以看出贴片的主要缺陷有虚空、 鼓包、胶层不均匀、胶层过厚、胶棱、压坑、变形等，其中鼓 包、压坑只要不在敏感栅受力部位，均可以使用。 针对这些缺陷，一定要在贴片后进行外观检查，剔 ①贴片后存在虚空现象，造成应变计零点漂移。这 一现象主要表现为对光检查时，就会发现应变计基底背 面有异物感、发花，同时用软的物体对应变计施加力时， 应变计电阻值就会发生变化，而去掉时，阻值很快就会恢 复。而由于虚空，造成应变计加电时局部热量增加产生 热漂移所致。 出有缺陷的，保证贴片质量。同时应对阻值、绝缘电阻进 行检查，以免后道工序的浪费。 电阻应变计在材料力学测试中有着非常广泛的应 ②贴片时胶层太厚或贴片后产生胶棱、鼓包等，造成 应变计零点漂移。这一现象主要表现为应变计背部有层 次感、周围胶液残留较多、固化后留有胶棱、鼓包。造成 用，正确使用应变计是准确测量的基础，也是保证测量数 据准确性的根本，应变计在结构和设备的安全监测方面 也有着广泛的应用，正确使用应变讲对实现生产过程和 科学实验过程的测量与控制具有重要的意义。 参考文献 这一现象的主要原因是构件表面清洗不干净有颗粒或胶 液涂刷不均匀或胶液过多。 （３）应变计浮栅或密封层脱起，造成应变计零点漂移。 ①应变计浮栅。主要表现为侧光观察应变计时，发 现应变计表面有针状亮点或用显微镜观察时敏感栅有扭 曲现象。造成这一问题可能是环境湿度过大或清洗溶剂 含水量过大，造成应变计受潮所致。 ［１］张如一，沈观林．应变电测与传感器［Ｍ］．北京：清华大学出版 社．１９９９． ［２］戴娟，汪大鹏，陈蕾．电测应力实验中应变片的粘贴技巧［Ｊ］．湖 南工程学院学报（自然科学版），２００３，（０３）：５５～５７． ［３］李淼．粘贴电阻应变计的实践与探索［Ｊ］实验科学与技术，２００９， ７（３） ②密封层脱起。主要表现为密封层有部分或全部脱 一［４］康鲁杰，杨继红．电阻应变计的选用［Ｊ］．科技应用，２００４，（０６）：９ ｌ０． 起，造成这一问题的主要原因是密封层与敏感栅的粘结 力不够所造成，引起敏感栅散热不均匀。 ［５］董冬，哥德峰．电阻应变计灵敏系数与横向效应系数测定［Ｊ］．试 验技术与试验机，２００５，（１，２）：２１～２７． ４．２贴片后阻值异常 一［６］刘兰．静态电阻应变测量中若干技术一问题的讨论［Ｊ］．装备维 修技术，２００４，（０１）：２４～２６． 『７］尹福炎．电阻应变片与应变传递原理研究『Ｊ］．衡器，２０１０，（２）． 般情况下，应变计贴片后其阻值会有微小变化或 不变，但有时用户会反映应变计阻值发生很大变化，造成 这一问题的因素有以下几点： （１）加压固化时加压力过大，造成贴片后阻值异常，适 当降低加压力，推荐用户加压力范围０．１５ＭＰａ～０．３ＭＰａ。 （上接第５页） ［１３］米宝永．光谱范围从３６５至１２０００ｎｍ的高精度光电自动折射仪 ［Ｊ］．光学精密工程，１９９８（０３）：８０～８５． 作者简介：王丽，女，讲师。工作单位：防灾科技学院。通讯地址：０６５２０１ 河北省三河市燕郊镇防灾科技学院防灾工程系。 ｔｅｒｆｅｒｏｍｅｔｒｉｃ ｔｅｃｈｎｉｑｕｅ ｆｏｒ ｅｘｐｒｅｓｓ ａｎａｌｙｓｉｓ ｏｆ ｔｈｅ ｒｅｆｒａｃｔｉｖｅ ｉｎｄｉｃｅｓ ｉｎ ｉｓｏｔｒｏｐｉｃ ａｎｄ ａｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃ ｏｐｔｉｃａｌ ｍａｔｅｒｉａｌｓ［Ｊ］．Ｏｐｔｉｃｓ ａｎｄ Ｌａｓｅｒｓ ｉｎ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ．２００８， ４６（２）：１６２～１６７． ［１４］尹鑫．４５。棱镜法测量晶体折射率［Ｊ］．应用激光，１９９５（０３）． 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