专利名称：测试装置及测试方法专利类型：发明专利发明人：不公告发明人申请号：CN201811130301.0申请日：20180927公开号：CN110956051A公开日：20200403
摘要：本公开涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试装置以及测试方法。所述装置包括：测试基板，用于放置集成电路并对所述集成电路进行测试，以获取所述集成电路的测试数据；解析镜头，与所述测试基板相对设置，用于扫描所述集成电路的封装体上的识别码，以使处理器解析所述识别码并根据解析结果与所述测试数据判断所述识别码的正确性。本公开减少了扫描时间，提高了扫描效率，从而提高了识别码的验证效率，同时节省了时间成本和人力成本。
申请人：长鑫存储技术有限公司
地址：230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
国籍：CN
代理机构：北京律智知识产权代理有限公司
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