专利名称：一种控制逻辑的测试系统及方法专利类型：发明专利
发明人：张照生,胡春平,李晖,林智勇,陆凤菊,刘煜,蒋李君,张
光新,奚玮君,王胜光,王旭
申请号：CN201810453320.0申请日：20180511公开号：CN108733028A公开日：20181102
摘要：本发明提供一种控制逻辑的测试系统及方法。该测试系统包括用户信息验证服务器、标准测试用例管理服务器、测试结果管理服务器和应用程序工作站；所述的应用程序工作站包括用户权限验证模块、标准库生成模块、模型转换模块和测试引擎模块；应用程序工作站通过网络将用户信息验证服务器、标准测试用例管理服务器和测试结果管理服务器连接起来。本发明提出的控制逻辑的测试系统及方法，可以自动生成测试用例并批量执行测试验证作业，大大减少人为操作，让用户方便、快速地完成控制逻辑测试验证工作，减少人因错误，提高测试质量和效率。
申请人：上海核工程研究设计院有限公司
地址：200233 上海市徐汇区虹漕路29号
国籍：CN
代理机构：上海精晟知识产权代理有限公司
代理人：冯子玲
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