熔质内部高温跟踪测量方法及装置[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：熔质内部高温跟踪测量方法及装置专利类型：发明专利

发明人：王贵朝,田建华,余泉有,吕秀生,何丽华,谭显祥,丁伯

南,傅世勤,刘勇,冯婕

申请号：CN96117674.1申请日：19960823公开号：CN1174986A公开日：19980304

摘要：熔质内部高温跟踪测量方法及装置,其方法以待测光源的辐亮度与标准光源的辐亮度比较为基础,包括采光、调光、分光、光电转换、信号放大、判读、计算及温度值输出;其装置由感温探头、光缆、多波长高温计和配有专用软件的数据存储分析仪构成。感温探头主要由金属氧化物单晶,保护壳及高低温光导耦合器组成。可测高温1000—2000℃,测温误差小于0.5%,耐高温、抗腐蚀、抗热震、抗氧化,可重复使用,连续跟踪测温,寿命长,用途广泛。

申请人：中国工程物理研究院流体物理研究所

地址：610003 四川省成都市523信箱52分箱

国籍：CN

代理机构：四川大学专利事务所

代理人：陈智伦

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