一种基于次数频谱与神经网络算法的软件缺陷定位方法[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种基于次数频谱与神经网络算法的软件缺陷定位

方法

专利类型：发明专利

发明人：王兴起,程瑞洁,陈滨,魏丹,方景龙申请号：CN201910594565.X申请日：20190703公开号：CN110515826A公开日：20191129

摘要：本发明公开了一种基于次数频谱与神经网络算法的软件缺陷定位方法，本发明所提出的方法考虑了由于循环等过程的存在引起语句多次执行，使用程序分支计数频谱对覆盖信息进行扩展，并将其作为BP神经网络的输入，实现运用机器学习的方法实现软件缺陷定位的目标。基于覆盖的程序缺陷定位方法利用覆盖信息来定位程序的缺陷语句。然而，这些方法可能会受到代码偶然性正确性的不利影响。偶然性正确是指在执行缺陷语句后，并没有触发错误的测试用例执行过程。本方法将会发生偶然性正确的测试用例的执行结果统一修正为错误的方法，在最大程度上避免偶然性正确对程序定位性能的影响。

申请人：杭州电子科技大学

地址：310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

国籍：CN

代理机构：杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：杨舟涛

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