专利名称：基于干涉原理的透镜中心误差测量系统专利类型：发明专利发明人：汪宝旭,蒋世磊申请号：CN201110047391.9申请日：20110228公开号：CN1021733A公开日：20110907
摘要：一种基于干涉原理的透镜中心误差测量系统，包括：激光器、准直镜、起偏器、分光棱镜、分光镜、第一λ/4波片、参考反射镜、上可调反射镜、下可调反射镜、下固定反射镜、上固定反射镜、第二λ/4波片、检偏器、成像镜头、CCD相机、计算机及精密回转工作台。本发明能够同时对球面和轴对称非球面透镜前后表面中心误差进行测量，测量效率高，且操作简单，不会降低干涉条纹的对比度。
申请人：中国科学院光电技术研究所
地址：610209 四川省成都市双流350信箱
国籍：CN
代理机构：北京科迪生专利代理有限责任公司
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