一种存储设备电源芯片稳定性的测试方法、装置及设备[发明专利]

来源：意榕旅游网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种存储设备电源芯片稳定性的测试方法、装置及

设备

专利类型：发明专利发明人：靳嘉晖

申请号：CN202011600941.0申请日：20201229公开号：CN1128348A公开日：20210525

摘要：本发明公开了一种存储设备电源芯片稳定性的测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质，将包括输入输出扩展器和升降压转换器的测试治具连接于测试主机与被测存储设备之间，测试主机向输入输出扩展器发送拉偏电压控制命令使升降压转换器对被测存储设备输出与拉偏电压控制命令对应的非正常输出电压，在被测存储设备的电路参数为与拉偏电压控制命令对应的电路参数后，向被测存储设备发送负载命令，以对被测存储设备在输入电压被拉偏的情况下进行运行测试，从而确定被测存储设备的电源芯片稳定性测试结果。弥补了现有技术中模拟被测存储设备电源芯片输入电压被拉偏场景下测试的空白，得到更符合实际场景的测试结果，有助于提高被测存储设备的可靠性。

申请人：北京浪潮数据技术有限公司

地址：100085 北京市海淀区上地信息路2号C栋5层

国籍：CN

代理机构：北京集佳知识产权代理有限公司

代理人：史翠

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容

查看全文