(12)发明专利申请
(21)申请号 CN201910588240.0 (22)申请日 2019.07.02
(71)申请人 深圳第三代半导体研究院
地址 518051 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1088号台州楼
(10)申请公布号 CN110379857A
(43)申请公布日 2019.10.25
(72)发明人 方志来;闫春辉;蒋卓汛;吴征远;田朋飞;张国旗 (74)专利代理机构 北京中知法苑知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 李明
(51)Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
(54)发明名称
一种包含p型氧化镓薄层的开关器件及其制备方法
(57)摘要
本发明公开了一种包含p型氧化镓薄层的
开关器件及其制备方法,属于功率半导体器件及其制备方法领域,器件包括:衬底、n型氮化镓沟道层、位于所述n型氮化镓沟道层上或部分嵌入所述n型氮化镓沟道层内的p型氧化镓薄层,源电极、漏电极和栅电极,其中所述p型氧化镓薄层氮掺杂含量为1×10
法律状态
法律状态公告日
2019-10-25 2019-10-25 2019-11-19
公开 公开
法律状态信息
公开 公开
法律状态
实质审查的生效 实质审查的生效
权利要求说明书
一种包含p型氧化镓薄层的开关器件及其制备方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
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