专利名称：一种基于一维靶标的结构光参数标定方法专利类型：发明专利发明人：周富强
申请号：CN200810239083.4申请日：20081208公开号：CN101419708A公开日：20090429
摘要：本发明属于测量技术领域，涉及对结构光视觉三维测量中结构光参数标定方法的改进。本发明提出一种基于一维靶标的结构光参数标定方法。当传感器安装完成后，由传感器的摄像机拍摄自由非平行移动一维靶标的多幅图像；根据一维射影变换获取靶标上特征线的消隐点，并与摄像机投影中心确定特征线在摄像机坐标系下的方向矢量；根据特征点之间的长度约束及特征线的方向约束，计算特征线上参考点的摄像机坐标，得到特征线在摄像机坐标系下的方程；利用射影变换和特征线的方程获得多个非共线的光条上控制点的摄像机坐标，拟合控制点得到结构光参数。本方法不需要高成本的辅助调整设备，标定精度高，过程简单，能够满足大尺寸结构光三维视觉测量的现场标定需要。
申请人：北京航空航天大学
地址：100083 北京市海淀区学院路37号
国籍：CN
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