第ｌ６卷第３期 辽宁科技学院学报 Ｖｏ１．１６ Ｎｏ．３ 生 ＪｏＵＲＮＡＬ ＯＦ ＬＩＡＯＮＩＮＧ ＩＮＳＴＩＴＵＴＥ ＯＦ ＳＣＩＥＮＣＥ ＡＮＤ ＴＥＣＨＮＯＬＯＧＹ Ｓｅｐ．２０１４ 文章编号：１０．３９６９／ｊ．ｉｓｓｎ．１００８—３７２３．２０１４．０３．０３５ 基于徕卡ＴＣＲ３０５全站仪的参考线测量放样方法 周洪华 （辽宁科技学院资源与土木工程学院，辽宁本溪１１７００） 摘要：全站仪内置应用程序较多，功能可谓强大，在工程实践中发挥的作用越来越大。文章介绍了全站仪常用的测量放 样方法并重点介绍了其特殊功能之一参考线测量放样的方法及其操作流程，探讨了全站仪参考线测量放样在工程实践中的 应用。 关键词：参考线；放样；测量流程 中图分类号：ＴＵ１９８ 文献标识码：Ａ 目前，全站仪已成为最常用的常规测量仪器之 一，而且智能化和自动化程度越来越高。很多全站 仪内置应用程序都有一些独特的功能。如南方ＮＴＳ 一３１０Ｌ全站仪的“道路测量”程序可以计算缓和曲 线两端连接不同半径曲线的特殊道路曲线；宾得Ｒ 一３１５Ｎ全站仪的“显示修订（ＶＩＥＷ）”，用图形显示 存储的数据，可以较直观的观察观测数据，便于及时 编辑与修改；徕卡ＴＣ（Ｒ）３０５全站仪的“参考线测 量”程序，可以解决在困难场地用常规放样方法难 以完成的工作等。由于在不同的工程实际中，已知 条件和环境有所不同，使用全站仪用传统的测量方 法有时解决不了一些实际问题，这就应该充分利用 这些特殊功能。 １ 全站仪测量放样方法 １．１常用的测量放样方法 徕卡ＴＣ（Ｒ）全站仪常用的放样方法有极坐标 放样和直角坐标放样。极坐标放样是利用待放样点 到原点的距离和角度来确定待放样点的位置。已知 条件为二个或二个以上的控制点，放样元素为距离 和角度；直角坐标法是根据直角坐标原理，利用纵横 坐标之差，测设点的平面位置。已知条件为二个或 二个以上的控制点，放样元素为二维坐标或三维坐 标。 常用的放样方法是根据给定的放样条件：两个 或两个以上的已知控制点和待放样点的坐标（直角 坐标或极坐标），在已知点设站，放样出待定点，最 后用某种标志在实地表示出待定点的位置。 １．２参考线测量放样方法 参考线方法是在放样过程中在任意点设站，以 两个或两个以上点为后视基点，根据给定的待放样 收稿日期：２０１４—０７—１３ 作者简介：周洪华（１９６３一），辽宁本溪人，辽宁科技学院资 源与土木工程学院工程师． 点坐标或待放样点与后视基点的几何关系放样点 位。 参考线放样法是在施工放样过程中，对那些在 施工区坐标中无法放样或难以放样的点或中心线， 通过坐标系的转换来实现放样。在徕卡ＴＣ（Ｒ）３０５ 全站仪测量程序中称“Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ Ｌｉｎｅ（参考线测 量）”。参考线放样的核心思想是建立一个平面直 角坐标系。当后视基点的坐标已知时，通过水平度 盘定向（使水平度盘零方向线与已知坐标系的ｘ轴 正向平行，设站点的坐标为已知坐标系中的坐标）， 使仪器坐标系与已知坐标系一致；当后视基点的坐 标未知时（如某一直线上的任意两点），可建立一个 假定平面直角坐标系（将设站点坐标假设为某值， 以水平度盘零方向线为ｘ轴正向的坐标系）。参考 线测量放样的原理在［１］中有详细阐述。参考线测 量放样方法只要给出待放样点相对于已知边的关 系，在地形比较复杂的时候不需要控制点就能放样。 放样工作是为工程施工服务的。放样方法的选 择与工程类型（如建筑工程、线路工程等）、施工部 位、施工现场环境和施工方法以及放样的精度要求 和控制点的分布有着非常重要的关系。对于不同的 工程和施工现场应灵活选择和使用不同的测量放样 方法。 ２ 两点参考线放样操作流程 （以徕卡ＴＣＲ３０５全站仪为例）徕卡ＴＣＲ３０５全 站仪的操作菜单使用的是英文描述，这给使用者带 来了不便，徕卡全站仪ＴＣＲ３０５内置应用程序Ｒｅｆｅｒ— ｅｎｃｅ Ｌｉｎｅ（参考线测量）的应用给建筑物各种线的 放样和检核、道路直线部分的放样和检查、以及指导 直线开挖等工作带来巨大的方便。参考线可以参照 已有基线。参考线可以相对于基线纵向或横向位 移，也可以相对于第一基准点旋转。如图１，Ａ１，Ａ２ 为基准线上的二点，Ｏｆｆｓ为横向偏移，Ｌｉｎｅ为纵向偏 移。 ３６ 辽宁科技学院学报 第１６卷 基线 参考线 图１ 参考线测量 参考镜 图２参考线放样测量 ２．１基线的确定 确定基线需二个点，可以由以下三种方式确 定 ： １）测量点，输人已知点的点号，瞄准立于已知 点上的棱镜按［Ａｌ１］（测存）测量基点，同样方法测 存另一基点（两点连线即为基准线）； ２）输入已知点的坐标，人工输入二个已知点的 坐标； ３）从仪器内存中选择，将已知点列表供选择。 ２．２参考线的确定 在使用基准线中，可以对基准线进行纵向位移 和横向平移、旋转，这条新的线就是所谓的参考线。 所有测量数据都与参考线有关。输人参数，用定位 键选择位移及旋转参数栏并输入数值。横向偏移： 相对于基线（Ａｌ点一Ａ２点），参考线向右位移；纵向 偏移：参考线起始点（参考点）向第二基准点方向位 移；偏转角：顺时针方向增加；高程＋：表示参考线比 第一基点高。 ２．３参考线放样测量操作流程 在施工现场任选一点（通视良好的地方）安置 仪器。打开仪器电源一按［ＰＯＲＧ］（程序）键一选择 “Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ Ｌｉｎｅ（参考线测量）”程序 直接按“ｓｔａｒｔ （开始）”，显示“Ｄｅｆｉｎｅ Ｂａｓｅｌｉｎｅ Ｐｔ．１（确定基线第一 点）”界面，输入第一基点点号，旋转照准部瞄准第 一基点所立棱镜按［Ａｌ１］（测存）键，显示“Ｄｅｆｉｎｅ Ｂａｓｅｌｉｎｅ Ｐｔ．２（确定基线第二点）”界面，输入第二基 点点号，旋转照准部瞄准第二基点所立棱镜，按 ［Ａｌ１］（测存）键，显示“Ｄｅｆｉｎｅ Ｒｅｆ．Ｌｉｎｅ Ｓｈｉｔｆｓ（参考 线定义）”界面，输入参考线相关的参数（Ｏｆｆｓ：横向 偏移（相对于基线（Ａｌ点一Ａ２点），参考线向右偏 移）；Ｌｉｎｅ：纵向偏移（参考线起始点（参考点）向第 二基准点方向位移）；Ｒｏｔ：偏移角（顺时针方向增 加）；Ｈｏｆｆ：参考线与第一基点的高差）一按软键 ［Ｌ＆Ｏ］（正交），显示“Ｉｎｐｕｔ Ｌｉｎｅ＆Ｏｆｆｓｅｔ（输入放样 点参数）”界面，输入放样点相对于参考线横向偏移 值Ｏｆｆｓ（１．５００米）；纵向偏移值Ｌｉｎｅ（３．０００米）一 按［ＣＡＬＣ］，显示“Ｍｅａｓｕｒｅ Ｌｉｎｅ＆Ｏｆｆｓｅｔ（测量相对 于参考线的参数）”界面一在待放样点附近立棱镜 （如图２），旋转照准部瞄准待放样点所立棱镜，按 ［ＤＩＳＴ］（测距）键，显示ｄＨＤ、ｄＨｔ值一按［ＳＨＩＦＴ］ ＋［ＰｇＤｎ］（翻页），显示出待放样点到参考线的垂距 差ｄＯｆｆｓ（横向偏差）和垂线到第一参考点的偏距差 ｄＬｉｎｅ（纵向偏差）。移动待放样点所立棱镜一按 ［ＤＩＳＴ］（测距）键，重复测量，直至横向偏差 （ｄＯｆｆｓ），纵向偏差（ｄＬｉｎｅ）值为零，放样完毕，此时 棱镜所立位置即为待放样点的位置。 ３ 两点参考线测量在工程中的应用 １）平整场地时用于实地测设方格网及建筑施 工控制测量中建筑方格网的初步测设； ２）以基线作为参考线，即横向偏移（Ｏｆｆｓ）和纵 向偏移（Ｌｉｎｅ）及旋转角（Ｒｏｔ）均为零，保证待放样点 到此参考线的垂距Ｏｆｆｓ为零，则可以确定待放样点 为参考线上的点，即利用全站仪参考线放样的功能 实现加密直线点； ３）由于两点参考线测量可以快速便捷地测定 任一点到参考线的垂距和偏距，因此可以用来检验 道路直线段边桩（或边线）到中线位置的正确性，还 可用来确定加桩的位置，确定道路任意里程的横断 面方向以及测设横断面； ４）在地籍测量中应用参考线测量放样方法与 传统的放样方法相结合确定界址线和界址点。如根 据已知条件：界址线距路边或房屋等的距离，在适当 的位置设置测站，测量并求出两个或两个以上围墙 （角）点，然后用参考线测量放样方法，首先放样出 界址线，再根据界址线用其它放样方法交会出界址 点。 ４ 结语 Ｉ）当放样时遇到障碍物遮挡、直线需要偏移、 第１６卷第３期 辽宁科技学院学报 Ｖｏ１．１６ Ｎｏ．３ ２０１４年９月 ＪＯＵＲＮＡＬ ＯＦ ＬＩＡＯＮＩＮＧ ＩＮＳＴＩＴＵＴＥ ＯＦ ＳＣＩＥＮＣＥ ＡＮＤ ＴＥＣＨＮＯＬＯＧＹ Ｓｅｐ． ２０１４ 中心线需要延伸等情况，用通常的放样方法无法将 目标点放至实地、无法获得中心线以外点的坐标等 问题时，应用两点参考线放样功能，可大大减少工作 器中转化为独立坐标，是以水平度盘０。为ｘ轴正方 向的“参考坐标系”； ３）在条件充分时，可以采用两点参考线测量放 量，同时也可提高放样的速度和精度； ２）参考线是通过坐标系的转换来确定待放样 样和传统放样（如坐标放样）相结合的方式，以提高 工作效率和放样精度。 点的实地位置，是将测量放样的点的大地坐标在仪 参考文献 ［１］郭宗河，郑进凤等．全站仪两点参考线测量与放样及其在工程中的应用［Ｊ］．测绘通报，２００４，（８） ［２］徕卡全站仪ＴＣ（Ｒ）３０３／３０５／３０７ ３．５版用户手册［ｓ］． ［３］张正禄等．工程测量学［Ｍ３．武汉：武汉大学出版社，２００５，１０． Ａ Ｌｏｆｔ Ｍｅｔｈｏｄ ｆｏｒ ｔｈｅ Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ．Ｌｉｎｅ Ｓｕｒｖｅｙｉｎｇ ｂａｓｅｄ ｏｎ Ｔｈｅｏｄｏｌｉｔｅ Ｓｔａｔｉｏｎ ＴＣＲ３０５ ＺＨ０Ｕ Ｈｏｎｇ—ｈｕａ （Ｓｃｈｏｏｌ ｏｆＲｅｓｏｕｒｃｅ ａｎｄ Ｃｉｖｉｌ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，Ｌｉａｏｎｉｎｇ Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ ｏｆＳｃｉｅｎｃｅ ａｎｄ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｂｅｎｘｉ，Ｌｉａｏｎｉｎｇ，１１７００４，Ｃｈｉｎａ） Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｔｈｅ ｐａｐｅｒ ｉｎｔｒｏｄｕｃｅｓ ｔｈｅ ｃｏｍｍｏｎ ｕｓｅｄ ｌｏｆｔ ｍｅｔｈｏｄｓ ｆｏｒ ｔｈｅｏｄｏｌｉｔｅ ｓｔａｔｉｏｎ ａｎｄ ｐｌａｃｅｓ ｓｔｒｅｓｓ ｏｎ ｏｎｅ ｏｆ ｔｈｅ ｓｐｅｃｉａｌ ｆｕｎｃｔｉｏｎ－－ｔｈｅ ｌｏｆｔ ｍｅｔｈｏｄ ｗｉｔｈ ｔｈｅ ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ ｌｉｎｅ ｓｕｒｖｅｙｉｎｇ ａｎｄ ｉｔｓ ｏｐｅｒａｔｉｏｎ ｐｒｏｇｒａｍ．Ｔｈｅｎ ｔｈｅ ｐａｐｅｒ ｅｘｐｏｕｎｄｓ ｔｈｅ ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ ｏｆ ｔｈｅ ｌｏｆｔ ｍｅｔｈｏｄ ｗｉｔｈ ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ ｌｉｎｅ ｓｕｒｖｅｙｉｎｇ ｂａｓｅｄ ｏｎ ｔｈｅｏｄｏｌｉｔｅ ｓｔａｔｉｏｎ． Ｋｅｙ ｗｏｒｄｓ：Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ ｌｉｎｅ；Ｌｏｆｔ；Ｓｕｒｖｅｙｉｎｇ ｐｒｏｇｒａｍ （上接第１７页） 参考文献 ［１］肖瑞华编著．煤焦油化工学［Ｍ］．北京：冶金工业出版社，２００９．２． ［２］赵振波．粗葸分离精制过程中的溶剂选择［Ｄ］．太原：太原理工大学出版社，２００３． ［３］孟贺，薛永强，王志忠．葸、菲、咔唑的分离提纯方法［Ｊ］．山西化工，２００３，（４）：４—７． ［４］杨建民．精蒽生产技术进展［Ｊ］．煤化工，２００４，（４）：１３一ｌ５． ［５］叶翠平，郑环等．溶剂结晶法用于蒽渣精制高纯咔唑研究［Ｊ］．煤炭转化，２０１３，（１）：８３—８７． ［６］程正载，王洋．粗蒽中主要组分的分离与精制［Ｊ］．煤炭转化，２０１３，（３）：６８—７１． ［７］谢秋生．萃取法生产咔唑的研究［Ｊ］．燃料与化工，２００３，３４（３）：１５３—１５４． ［８］刘爱花，薛永，翟建望．从粗蒽中提取精蒽的研究［Ｊ］．太原理工大学学报，２００７，（３）：２３３—２３５ ［９］赵振波，王志忠．蒽和咔唑在有机溶液中溶解度的研究［Ｊ］．煤炭转化，２００２，２５（３）：９４—９６． Ｒｅｓｅａｒｃｈ ｉｎｔｏ ｐｒｅｐａｒａｔｉｏｎ ｏｆ Ｒｅｆｉｎｅｄ Ａｎｔｈｒａｃｅｎｅ ｗｉｔｈ Ｓｏｌｖｅｎｔ Ｃｒｙｓｔａｌｌｉｚａｔｉｏｎ ｍｅｔｈｏｄ ＤＡＩ Ｗｅｎ—ｓｈｕａｎｇ，ＸＵ Ｈａｉ—ｌｏｎｇ，ＺＨＡＯ Ｙａ—ｊａｎ （Ｓｃｈｏｏｌ ｆＭｅｏｄｉｃｉｎａｌ ａｎｄ Ｃｈｅｍｉｃａｌ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，Ｌｉａｏｎｉｎｇ Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ ｏｆＳｃｉｅｎｃｅ ａｎｄ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｂｅｎｘｉ，Ｌｉａｏｎｉｎｇ，１１７００４，Ｃｈｉａ）ｎ Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｉｎ ｔｈｉｓ ｐａｐｅｒ，ｗｅ ｔａｋｅ ｃｒｕｄｅ ａｎｔｈｒａｃｅｎｅ ａｓ ｒａｗ ｍａｔｅｒｉａｌ，ａｎｄ ＤＭＦ ａｓ ｔｈｅ ｓｏｌｖｅｎｔ ｔｏ ｐｒｅｐａｒｅ ｒｅｆｉｎｅｄ ａｎｔｈｒａｃｅｎｅ．Ｔｈｅ ｏｐｔｉ— ｍｕｍ ｃｒｙｓｔａｌｌｉｚａｔｉｏｎ ｃｏｎｄｉｔｉｏｎ ｆｏｒ ＤＭＰ ａｒｅ ｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ ａｓ ｂｅｌｏｗ：ｄｉｓｓｏｌｖｅｄ ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ ９０￣Ｃ，ｃｒｙｓｔａｌ—ｋｅｅｐｉｎｇ ｔｉｍｅ ５０ ｍｉｎ，ｓｏｌｖｅｎｔ ｒａ— ｔｉｏ １．８ｇ／ｍｌ，ｃｏｏｌｉｎｇ ｃｒｙｓｔａｌｌｉｚａｔｉｏｎ ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ ２５℃，ｃｏｏｌｉｎｇ ｃｒｙｓｔａｌｌｉｚａｔｉｏｎ ｔｉｍｅ ５０ｍｉｎ．Ｔｈｅ ｒｅｓｕｌｔｓ ｓｈｏｗ ｔｈａｔ ｔｈｅ ｐｒｏｃｅｓｓ ｈａｒｄｌｙ ｈａｓ ｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌ ｐｏｌｌｕｔｉｏｎ，ｔｈｅ ｓｏｌｖｅｎｔ ｉｓ ｃｉｒｃｕｌａｒｌｙ ｕｔｉｌｉｚｅｄ，ｔｈｅ ｃｏｓｔ ｉｓ ｌｏｗｅｒ，ｔｈｅ ｐｕｒｉｔｙ ｏｆ ｒｅｆｉｎｅｄ ａｎｔｈｒａｃｅｎｅ ｃａｎ ｒｅａｃｈ ｔｏ ｍｏｒｅ ｔｈａｎ ９６％，ｔｈｅ ｔｏｔａｌ ｒｅｃｏｖｅｒｙ ｙｉｅｌｄ ｏｆ ｒｅｆｉｎｅｄ ａｎｔｈｒａｃｅｎｅ ｉｓ ｈｉｇｈｅｒ ｔｈａｎ ６７％． Ｋｅｙ ｗｏｒｄｓ：Ｃｒｕｄｅ ａｎｔｈｒａｃｅｎｅ；Ｒｅｆｉｎｅｄ ａｎｔｈｒａｃｅｎｅ；Ｓｏｌｖｅｎｔ ｃｒｙｓｔａｌｌｉｚａｔｉｏｎ
