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用于测量植物生长条件的装置及方法

来源:意榕旅游网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN201480007734.0 (22)申请日 2014.02.07 (71)申请人 罗克伍尔国际公司

地址 丹麦海德胡森

(10)申请公布号 CN105072889A

(43)申请公布日 2015.11.18

(72)发明人 弗兰克·雅各布·德格鲁特

(74)专利代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司

代理人 王静

(51)Int.CI

A01G25/16; A01G31/02; G01N27/22;

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

用于测量植物生长条件的装置及方法

(57)摘要

本发明提供了用于在基质内测量植物生长

条件的装置(10)和方法。使用探针(16、18)的第一和第二线性阵列,获得基质性质的多个测量结果。使用在基质中不同水平面的多个测量结果然后将这多个测量结果组合,从而更精确地获得植物生长条件。

法律状态

法律状态公告日

2015-11-18 2015-11-18 2015-12-16 2015-12-16 2016-01-13 2016-01-13 2018-11-20

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 著录事项变更 著录事项变更 授权

法律状态

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 著录事项变更 著录事项变更 授权

权利要求说明书

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说明书

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